某发射筒端盖密封失效分析

作者：柯贤朝; 林彬; 杨薛军; 蔡玄龙; 李小慧

来源：理化检验.物理分册, 2019, 55(10): 730-732.

• 发射筒端盖
• 裂纹
• 密封性
• 机械失效

某发射筒端盖在周转过程中出现密封失效,通过理化检验和失效模拟试验等方法,对该端盖密封失效的原因进行了分析。结果表明:端盖外表面在周转过程中受到机械外力作用产生了裂纹,裂纹不断扩展导致泄漏失效;将包装箱内缓冲材料厚度适当增加,使发射筒与缓冲材料的间隙小于1mm,可有效避免此类失效的发生。

• 单位
  上海材料研究所