一种低开销的旁路重构RO的片上老化测量方案

作者：马俊祥; 梁**; 李丹青; 易茂祥; 鲁迎春; 蒋翠云

来源：微电子学, 2022, 52(06): 1090-1095.

DOI：10.13911/j.cnki.1004-3365.210500

• 关键路径时序
• 旁路重构
• 振荡环
• 老化测量方案

芯片老化引发的可靠性问题日益严重，会降低芯片性能，最终可能导致芯片失效。针对已有的芯片老化测量结构硬件开销大、影响关键路径时序等问题，提出了一种低开销的旁路重构振荡环的片上老化测量方案。实验结果表明，相比现有方案，该方案硬件开销降低了63.2%,在性能上平均提高了15.7%,并且老化在线测量误差较小，仅为2%。

• 单位
  合肥工业大学; 数学学院