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摘要
某电子设备在环境试验低温测试过程中,内部电路运行失常,寄存器读写失败。通过大量对比测试、频率扫描、电路原理图和PCB审查和理论分析,最终发现低温导致电源模块开关噪声频率发生偏移,和芯片内部时钟芯片频率重合,且噪声从空间和线路传导上干扰了芯片内部时钟,造成芯片工作异常,无法进行正常的寄存器读写。通过对噪声隔离和滤波临时措施、以及更换电源模块的整改措施,有效解决了干扰问题,为类似问题的处理提供参考借鉴。
- 单位
某电子设备在环境试验低温测试过程中,内部电路运行失常,寄存器读写失败。通过大量对比测试、频率扫描、电路原理图和PCB审查和理论分析,最终发现低温导致电源模块开关噪声频率发生偏移,和芯片内部时钟芯片频率重合,且噪声从空间和线路传导上干扰了芯片内部时钟,造成芯片工作异常,无法进行正常的寄存器读写。通过对噪声隔离和滤波临时措施、以及更换电源模块的整改措施,有效解决了干扰问题,为类似问题的处理提供参考借鉴。
