光电产品γ辐照性能试验研究及应用

作者:魏志强; 温明; 辛林杰; 张玉方; 阮建明
来源:电视技术, 2019, 43(05): 26-29.
DOI:10.16280/j.videoe.2019.05.008

摘要

为了解光电探测设备的耐辐照性能,对伺服转台控制系统、可见光成像传感器、光学镜头等光电产品进行了γ照射试验,测试在约7~510 Gy/h之间不同剂量率下照射9小时产品的工作及失效情况,测试2 mm、5 mm铅层对光电产品的防护作用。试验结果表明,大剂量率γ照射瞬间即对光电产品性能产生损伤,2 mm或5 mm铅层防护对光电产品性能未能起到防护作用,但在累计剂量下有一定优势,同时测试了被测产品的耐辐照性能,为保证光电产品在有γ辐照环境下正常工作提供了可靠数据依据。

  • 单位
    中国电子科技集团公司第三研究所

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