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摘要
ZnO压敏电阻是电子和信息化领域重要的过电压防护器件,对电子与通信系统的运行安全有着至关重要的作用。本研究基于压敏电阻直流老化特性实验平台,开展了热电应力下ZnO压敏电阻温度特性、荷电率特性以及长期直流电压下老化特性的变化规律研究。实验与分析结果证明:1)在电应力与热应力作用下,ZnO压敏电阻的泄漏电流和功率损耗随着荷电率增大而增大;2)同一型号压敏电阻在同温度(115℃),不同荷电率下两组直流老化实验,泄漏电流曲线经历了快速上升、缓慢下降至平稳、激增3个变化阶段,两组老化时间存在较大差异; 3)压敏电阻长时间直流老化实验中,10 K 250压敏电阻片在97%荷电率和145℃温度条件下,历经264 h的老化过程,其压敏电阻泄漏电流、功率损耗的急剧增长,压敏电压、非线性系数、漏电流发生显著的变化。因此,传统意义上将压敏电压值降为初始值的10%作为老化实验寿命终结判据对于直流老化来说需要进一步研究。
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