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摘要
为了诊断Z箍缩等离子体X射线相关信息,利用自聚焦和均匀色散原理,研制了一种新型的均匀色散弯晶谱仪。晶体分析器采用α-石英(1010),布拉格角为43.4°～72.7°,利用有效面积为10mm×50mm的X射线胶片接收光谱信号,实验在中国工程物理研究院阳加速器装置上进行,摄谱元件获得了Z箍缩铝丝阵等离子体的类H及类He谱线。实验结果表明:谱线分布遵循均匀色散条件,所研制均匀色散弯晶谱仪线色散率为-116.198mm/nm,与理论值-120mm/nm的相对误差为3.168%,能够用于Z箍缩等离子体X射线的光谱学研究。
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