摘要
为研究甜瓜抗枯萎病的遗传规律,本研究以高抗枯萎病的甜瓜自交系‘T02’为父本,高感枯萎病的甜瓜自交系‘TC01’为母本,构建F1、F2、BC1P1、BC1P2世代遗传群体,采用伤根灌根法对六世代遗传群体进行抗甜瓜枯萎病表型鉴定,利用SEA软件对统计结果进行“主基因+多基因”遗传分析。结果表明,甜瓜抗枯萎病的遗传符合“MX2-ADI-ADI”模型,甜瓜对枯萎病的抗性由两对主基因控制,F2群体的主基因遗传率为67.046 4%,多基因遗传率为0.000 6%。本研究为甜瓜枯萎病抗性基因的定位及抗病品种的选育提供理论参考。
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