DSP器件测试技术

作者：宋芳; 李永梅

来源：电子测量与仪器学报, 2012, S1: 26-30.

• DSP
• 测试技术
• 测试图形
• SP3160V DSP
• test technology
• test pattern
• SP3160V

数字信号处理器(DSP)由于集成度高,功能复杂,故其测试问题一直是国内难题。本文介绍了数字信号处理器(DSP)的主要特征和发展应用,分析了DSP器件测试面临的挑战,以TI公司的DSP器件为例,详细论述了自动获取DSP器件测试图形实现DSP器件测试的技术方案,本文论述的DSP测试方法已经在SP3160V集成电路测试系统上实现。

• 单位
  北京航空航天大学