防晕层厚度和碳化硅含量对其电学性能影响因素的研究

作者:于开坤; 宁叔帆; 赵丽华; 刘斌; 陈维; 陈寿田
来源:绝缘材料, 2005, (03): 29-31+35.
DOI:10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2005.03.009

摘要

研究了大电机定子线棒碳化硅(SiC)防晕层的非线性电学性能及其影响因素。将SiC材料涂刷到电机线棒表面作为防晕层时,影响防晕层电学性能的因素除了与SiC材料本身的性能有关外,还与防晕层的厚度以及SiC材料在防晕层中所占的比例等因素有关。研究结果表明:随着碳化硅防晕层厚度的增加,碳化硅防晕层的非线性系数提高,表面电阻率下降;随着碳化硅粉料在防晕层中的比例的增大,防晕层的非线性系数,表面电阻率下降。

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