科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
本文用基于密度泛函理论的第一性原理计算方法,研究了三种建议的二维材料X2UO4(X=K, Rb, Cs)的稳定性、弹性、电子结构和声子振动特性.计算结果显示,三种材料同时具备较好的热力学、动力学和机械稳定性.电子结构表明,三种材料属于宽禁带间接半导体,其计算能隙分别是3.90、3.79和3.42 eV,并且在300 K时有着71.31-174.23 cm2/Vs的电子迁移率.声子输运特性表明,三种材料的声子色散均没有虚频出现,声学模和低频光学模呈现强烈耦合,且有着低频率low-lying声子,这使得材料具备很强的声子非谐效应、低声子群速度和强声子散射率,从而表现出很低晶格热导率,在300 K温度下时仅为0.16-0.19 W/mK.这些特性表明,二维X2UO4(X=K, Rb, Cs)在纳米电子和热电器件领域具备应用潜力.
- 单位
