ZnO薄膜的性质对水热生长ZnO纳米线阵列的影响

作者：徐志堃; 赵东旭; 孙兰兰; 鄂书林; 张振中; 秦杰明; 申德振

来源：发光学报, 2012, (05): 549-552.

• ZnO
• 水热法
• 纳米线阵列
• 直径
• 密度 ZnO
• hydrothermal method
• nanowire array
• diameter
• density

用水热法在ZnO薄膜上制备了直径、密度及取向可控的ZnO纳米线阵列。ZnO薄膜是通过原子层沉积(ALD)方法制备并在不同温度下退火处理得到的,退火温度对ZnO薄膜的晶粒尺寸、结晶质量和缺陷性质有很大的影响。而ZnO薄膜的性质对随后生长的ZnO纳米线的直径、密度及取向能起到调节控制的作用。通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)仪和光致发光(PL)测试对ZnO薄膜和ZnO纳米线进行了表征。最后得到的垂直取向的ZnO纳米线阵列适合在发光二极管和太阳能电池等领域使用。

• 单位
  发光学及应用国家重点实验室; 长春理工大学; 中国科学院研究生院; 材料科学与工程学院; 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所