基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计

作者：魏江杰; 张竣昊; 孙碧垚

来源：集成电路应用, 2023, 40(07): 28-30.

DOI：10.19339/j.issn.1674-2583.2023.07.011

• 集成电路测试
• ZYNQ
• 扫描链
• 复用性

阐述基于ZYNQ的通用集成电路测试系统设计，可以根据集成电路的实际需求，满足集成电路在扫描链功能测试、通用接口通信功能测试的双重需求，可以实现对多种通用芯片的关键参数进行测试。在测试阶段，降低了测试成本，系统有比较好的复用性。