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摘要
本发明公开了一种干法制备二维材料TEM样品的方法,该方法包括：加热块状二维材料,用胶带撕去表面层露出表面新鲜的材料,用镊子在新鲜材料表面划数条划痕,吹去残渣并将有碳膜一面的微栅盖在划痕处,加热,待冷却用镊子尖端抵在微栅孔径间的肋上,向前推进、摩擦。取下微栅加热,得到所制得的用于透射电子显微镜表征的二维材料样品。本发明能够较好地克服目前技术在制备过程引入污染物或时间较长导致样品发生化学反应、效率不高、由于样品很薄操作时使样品破碎或其它不当操作导致的结构发生改变等缺点外,还具有灵活、操作简单、高效地得到薄层二维材料的TEM样品的特点。
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