登录
免费注册
首页
论文
论文详情
赞
收藏
引用
分享
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
论失效分析方法及流程
作者:王起; 王时光
来源:
电子测试
, 2020, (03): 47-48.
DOI:10.16520/j.cnki.1000-8519.2020.03.019
封装
元器件
失效分析
摘要
随着微电子业的飞速发展,失效分析广泛应用于宇航、工业、军品和民用产品中。失效分析是对失效器件进行分析检查,找出失效发生的原因,从而为改进、提高器件可靠性指明方向,在可靠性工程中具有重要的作用。
单位
天水生产力促进中心
全文
全文
访问全文
相似论文
引用论文
参考文献