科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
用频率为3Hz、6Hz、10Hz脉冲电流处理了纯Si熔体试样。用金相显微镜、原子力显微镜对试样进行观察,可以看出经过脉冲电流处理后的纯Si,组织及晶粒粗大化,晶界也变的越来越不明显;利用扫描电子显微镜观察试样断口形貌,经脉冲电流处理后使纯Si的脆性增强;由测得的试样的电阻率,表明经脉冲电流处理试样的电阻率比未经脉冲电流处理的试样电阻率显著降低,并且随着脉冲电流频率的增大,电阻率不断减小。
-
单位燕山大学; 辽宁工业大学; 亚稳材料制备技术与科学国家重点实验室; 材料科学与工程学院
