一种面向集成微系统的内建芯片健康状态自监测方法

来源：军民两用技术与产品, 2019, (10): 46.

<正>专利权人:北京时代民芯科技有限公司、北京微电子技术研究所专利号:201710619528.0简介:本发明涉及一种面向集成微系统的内建芯片健康状态自监测方法,在集成微系统内设置电压采集电路、电流采集电路、实时时钟电路;集成微系统包括处理器、状态显示电路、通信电路、存储电路。集成微系统将采集的电源电压、工作电流