基于VBM-DARTEL的局灶性皮质发育不良脑灰质体积异常检测方法

作者：庞清华; 景斌; 刘长青; 张大保

来源：中国医学物理学杂志, 2016, 33(04): 330-335.

• 局灶性皮质发育不良
• 结构磁共振
• 基于体素的形态学测量方法
• 灰质体积

目的:局灶性皮质发育不良(Focal Cortical Dysplasia,FCD)是导致药物难治性癫痫的重要病因之一。如何应用磁共振影像探究FCD全脑解剖结构的异常变化部位和定位,对临床诊断和治疗具有重要意义。方法:本文建立一种基于VBM-DARTEL的FCD脑灰质异常检测方法。该方法包括对磁共振结构像进行图像分割、DARTEL模板制作、图像标准化等,最后使用双样本独立t检验统计分析患者组和对照组全脑灰质体积的差异,从而得到FCD脑灰质的病变特征。结果:与正常对照组相比,FCD患者组双侧大脑半球存在广泛脑区的灰质体积异常;FCD患者的脑灰质存在萎缩,并伴有灰质体积异常增大的脑区,且多集中在额叶和颞叶等区域。结论:基于DARTEL的VBM方法可以有效地检测FCD患者脑灰质体积的异常变化,且能准确定位FCD病灶。

• 单位
  北京三博脑科医院; 首都医科大学; 生物医学工程学院