基于光栅尺的位移测量系统以其对使用环境要求低,测量分辨率高等优点,在机械制造领域应用广泛。介绍了一种基于光栅尺的全自动位移测量系统实现。测量系统通过HCTL2020对光栅尺输出的信号进行细分辨向从而提高测量精度,使用MSP430对细分后的信号进行处理,实现了对X-Y工作台上X方向的位移测量,并将测量结果发送至上位机。上位机通过串口通信发送控制命令,接收测量系统发送的测量结果,并对待测工件的尺寸加工精度进行了分析。实验证明该系统测量精度高,且工作稳定可靠、实用性好。
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