配电网一二次融合开关二次部分的可靠性测试

作者:马建伟; 毕猛强; 贺翔; 徐铭铭; 朱剑鹏; 赵海洋
来源:集成电路应用, 2019, 36(01): 80-83.
DOI:10.19339/j.issn.1674-2583.2019.01.030

摘要

通过搭建高电压温度环境箱和雷电压冲击测试平台模拟一次设备工况环境,从温度和电磁干扰两个方面进行二次部分的试验测试和数据分析。试验发现温度会导致二次部分功耗、电压、电流等电气量发生明显变化,雷电冲击造成高于1 kV的干扰电压会导致二次部分出现误动和死机等故障现象。测试结果可为配电网一二次融合成套设备的性能检测及评估提供参考依据。

  • 单位
    国网河南省电力公司电力科学研究院; 郑州大学

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