热处理对氮化硅薄膜光学和电学性能的影响

作者：龚灿锋; 席珍强; 王晓泉; 杨德仁; 阙端麟

来源：太阳能学报, 2006, (03): 300-303.

• 氮化硅
• 热处理
• PECVD SiN_x
• annealing
• PECVD

使用PECVD在单晶硅硅片表面沉积了非晶氮化硅(a-SiNx∶H)薄膜,采用传统的退火炉和快速热退火炉进行了不同时间和温度下的退火比较,并研究了退火对薄膜光学性能以及材料少子寿命的影响。研究发现:氮化硅薄膜经热处理后厚度降低,折射率先升高后降低;沉积氮化硅薄膜后400℃退火可以促进氢扩散,提高少子寿命,超过400℃后氢开始逸失,衬底少子寿命急剧下降。另外,还发现RTP处理过程中氢的逸失比常规热处理快。

• 单位
  浙江大学; 硅材料国家重点实验室