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摘要
基于DMD器件的中波红外孔径编码光谱成像技术具有光通量大、信噪比高、实时性好等优点。为解决现有中波红外孔径编码光谱成像仪存在的杂散辐射问题，构建了光谱成像仪仿真模型，确定了系统杂散辐射的主要来源和具体传播路径、计算了成像光谱仪各个部分对整体杂散光辐射的贡献值。最终确定杂散光主要来源为成像仪内部DMD机械边框的自发辐射。提出了局部控温法抑制系统的杂散光。还提出了一种基于差分编码掩模序列的杂散光抑制方法，从编码和解码的角度进一步校正了系统的杂散辐射。并设计实验，验证杂散光抑制方法的有效性。
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