金属化膜脉冲电容器的可靠性评估

作者：贾占强; 蔡金燕; 梁玉英; 韩春辉

来源：强激光与粒子束, 2011, 23(01): 272-276.

DOI：10.3788/HPLPB20112301.0272

• 可靠性
• 加速退化试验
• 金属化膜脉冲电容器
• 伪失效寿命
• 随机退化轨迹 reliability
• step-down stress accelerated degradation testing
• metallized film pulse capacitor
• pseudo failure lifetime
• random degradation path

为更加高效地评价自愈式高储能密度金属化膜脉冲电容器的可靠性水平,提出了一种基于步降加速退化试验的金属化膜脉冲电容器可靠性评估算法。对步降加速退化试验进行了阐述,深入探讨了可靠性评估中的关键步骤——试验数据折算过程。在此基础上,提出了基于伪失效寿命的步降加速退化可靠性评估算法和基于随机退化轨迹的步降加速退化可靠性评估算法,最后利用具体实例对该方法的有效性进行了验证。结果表明,与现有方法相比,该方法在保证评估精度的基础上,试验时间可以缩短45%。

• 单位
  中国人民解放军陆军工程大学