基于STM32的低频数字频率特性测试仪的设计

作者：陈聪聪; 席泽敏; 张文成; 闫晓萍

来源：舰船电子工程, 2016, 36(12): 145-150.

• STM32
• 数字频率特性测试仪
• AD8302
• 幅频特性

介绍一种基于STM32的低频数字频率特性测试仪的设计原理和实现方法,并给出了校准方法与测试方法。该数字频率特性测试仪以STM32为微处理器,采用AD9854产生DDS信号源信号,并配置其内部的12位数字乘法器实现更为精确的0.1dB步进的衰减网络,使用电流反馈型运算放大器AD8009作为信号调理及放大电路,利用AD8302实现幅度相位检测。实际测试表明,该测试仪具有成本低、误差小、维护方便等特点,可满足工程和教学中的频率特性测试需要,具有广泛的应用前景。

• 单位
  中国人民解放军海军工程大学; 电子工程学院