为了满足OLED准确批量测试及降低系统成本的需要,根据表征OLED器件性能指标的特点,设计并建立了一套可测试OLED电流密度-电压-亮度以及器件衰减曲线的测试系统。该系统在计算机程控测控稳压电源的控制下,可同时对多路OLED进行测试并实现了OLED屏的加速老化的测试,采用光敏二极管传感器代替了通常使用的辉度计,降低了系统的成本。系统最终输出数据结果由计算机记录,提高了数据采样的准确性,对OLED制作的材料和工艺的评测提供了精确的参考数据。
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