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摘要
利用MCNP程序对450kV X光机建立模型,计算各参考辐射质下的原级谱、平均光子能量。对ISO4037-1中已有范围的管电压与附加过滤片厚度关系曲线进行二次拟合,确定模拟厚度范围。利用MCNP计算各附加过滤组合下的平均光子能量值,并与外推法得出的平均光子能量值进行对比,将相对偏差最小时的附加过滤作为最终确定值。从部分能量点的模拟与测量结果的对比可看出,模拟得出的平均光子能量在2%以内与PTB及中国计量院测量结果保持一致,附加过滤最大相对偏差为18%。
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利用MCNP程序对450kV X光机建立模型,计算各参考辐射质下的原级谱、平均光子能量。对ISO4037-1中已有范围的管电压与附加过滤片厚度关系曲线进行二次拟合,确定模拟厚度范围。利用MCNP计算各附加过滤组合下的平均光子能量值,并与外推法得出的平均光子能量值进行对比,将相对偏差最小时的附加过滤作为最终确定值。从部分能量点的模拟与测量结果的对比可看出,模拟得出的平均光子能量在2%以内与PTB及中国计量院测量结果保持一致,附加过滤最大相对偏差为18%。
