纳米粒子对聚酰亚胺薄膜电晕老化形态的影响

作者：李鸿岩; 施杰; 姜其斌; 刘斌

来源：绝缘材料, 2007, (05): 42-44.

DOI：10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2007.05.013

• 纳米粒子
• 电晕
• 老化
• 聚酰亚胺
• 薄膜 nanometric particles
• corona
• degradation
• polyimide
• film

为了研究无机纳米氧化物在提高聚合物耐电晕性能方面所起的作用,采用高分辩率光学显微镜比较了聚酰亚胺(PI)薄膜和纳米Al2O3填充聚酰亚胺薄膜在相同条件下的老化形貌,发现纯PI表面老化形态早期为山谷状,随着时间的延长山谷的深度增加,最终形成凹坑;而PI-Al2O3复合薄膜则呈浅凹坑状,随着老化的进行最终发展成浅的由纳米粒子组成的蜂窝状孔洞,且老化速度显著降低。

• 单位
  株洲时代新材料科技股份有限公司; 西安交通大学; 电力设备电气绝缘国家重点实验室