一种避免内存爆炸的组合电路等价性验证方法

作者：杨军; 卢永江; 葛海通; 郑飞君; 严晓浪

来源：电路与系统学报, 2007, (3): 21-25.

DOI：10.3969/j.issn.1007-0249.2007.03.005

• 等价性验证
• BDD
• 割集

割集在组合电路等价性验证中得到了广泛的应用,已有的方法常构造能将整个电路一分为二的割集,虽然这种割集在验证后续节点时可以重用已构建的BDD,但它的排序对大多数后续节点都很差,容易引起内存爆炸问题.本文中的割集只针对要验证等价性的某一对点,避免了上述问题.ISCAS85的实验结果表明了它的有效性.

• 单位
  浙江大学