基于STM32的放大器参数及故障测试仪

作者：罗骏

来源：电子测试, 2021, (13): 19-22.

DOI：10.16520/j.cnki.1000-8519.2021.13.005

• 运算放大器
• 电路特性测试
• 自动化测

通过设计对运算放大器做一系列自动化测试,获取通用放大器特性参数及进行故障测试,能够测试通用性放大器的基本参数和特性、测试特定的一些故障,对放大器在电子领域、功放领域都有着很大的应用辅助。

• 单位
  中国电子科技集团公司第三十四研究所