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摘要
为探求一种快速有效识别缺陷鲜杏无损检测方法,利用高光谱成像技术对其进行检测。首先借助可见近红外高光谱成像系统获取鲜杏高光谱图像数据,提取感兴趣区域的光谱曲线,然后对原始光谱进行卷积平滑、标准正态变量、多元散射校正3种不同预处理方法,通过建立支持向量机SVM识别模型对缺陷鲜杏进行检测判别。研究结果表明,原始光谱和Savitzky-Golay卷积平滑预处理建立的C-SVC类型的支持向量机模型最优,识别率均为93.3%,为快速有效识别缺陷鲜杏提供了可能。
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单位农业部; 石河子大学
