硫酸对铝箔交流腐蚀影响机理的研究

作者:吕根品; 闫小宇; 方铭清; 黄宏亮; 肖远龙*
来源:电子元件与材料, 2021, 40(04): 344-349.
DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2021.1728

摘要

采用静电容量测试、腐蚀皮膜厚度测试、密度泛函理论计算和计时电位法分析了盐酸/硝酸(HCl/HNO3)电解液中硫酸(H2SO4)对铝箔交流腐蚀行为的影响。结果表明,H2SO4对低压箔比容的影响取决于化成电压,低电压时比容随H2SO4浓度增加而降低,高电压时则存在最适H2SO4浓度(约0.004 mol·L-1)。由于SO42-与Al3+有很强的结合力,而且改变了Al电子云状态,因此H2SO4添加有利于腐蚀皮膜的形成,进而影响阳极皮膜。另外,H2SO4存在降低了蚀孔拐角处Cl-浓度,导致起蚀点移向(100)面中心处和蚀孔连接通道口变宽。因而减少了有效表面积,但同时减轻了通道口被堵塞的程度,使得在不同电压下表现出不同的影响机制。

全文