基于双折射双频激光器中的调频回馈位移测量研究

作者：毛威; 张书练

来源：Acta Physica Sinica, 2007, 56(3): 1409-1414.

DOI：10.3321/j.issn:1000-3290.2007.03.028

• 调频回馈
• 位移测量
• 双折射双频激光器
• 强度波动频率

提出了一种基于双折射双频激光器中的调频回馈效应的位移测量系统,并在实验和理论两方面进行了研究.实验中保持回馈外腔长度不变,将一四分之一波片置于激光器内腔中,调制内腔长度,激光器的中心频率发生改变,激光器输出强度将发生周期性的变化.研究发现激光强度曲线的波动频率正比于回馈外腔长度与内腔长度之比.当该位移测量系统的外腔长度是内腔长度的6倍时,被测物体每移动半个光波长,激光强度波动12次,系统分辨率可以达到二十四分之一光波长.理论分析与实验结果相符合.研究表明该位移测量系统具有高分辨率、大测量范围、可工作于任意回馈水平等特点.

• 单位
  精密测试技术及仪器国家重点实验室; 清华大学