X射线激励对SF6中直流针尖放电的影响

作者：张强^*; 张瀚驰; 李成榕; 马国明

来源：电工技术学报, 2019, 34(24): 5282-5288.

DOI：10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.181802

• X射线
• 针尖缺陷
• 直流电压
• 局部放电
• 特高频

国外已有研究表明,X射线激励能影响固体绝缘中微小气隙缺陷局部放电的特性。为了研究X射线激励对SF6气体中针尖缺陷局部放电的影响,搭建了基于实体252kV GIS的局部放电试验平台,设计了GIS中常见的针尖放电模型,基于特高频方法测量了X射线激励下直流电压针尖缺陷的放电特性。对该文设计的长15mm、曲率半径为50mm的针尖缺陷,X射线能够分别降低正、负极性下的针尖放电起始电压约28.6%和15.6%;提高正、负极性放电脉冲重复率(正极性5.3～17.0倍,负极性80.4～166.7倍);降低正极性放电的特高频信号幅值约35.3%。X射线能够电离SF6气体,在针尖缺陷附近产生光电离,为放电区域提供有效电子,从而降低放电统计时延,降低局部放电的起始电压,实现局部放电特征的外部调控。研究结果可以为直流GIS/GIL绝缘缺陷局部放电检测提供一种手段。

• 单位
  新能源电力系统国家重点实验室; 华北电力大学