摘要

通过分析电子安全与解除保险装置的原理,得出了实现安全与解除保险逻辑的两片独立IC器件对保证全电子安全系统的安全性至关重要。针对使用FPGA实现的独立IC器件,引进嵌入式软件黑盒测试技术来对其进行测试。结合相关国军标给出了对安全与解除保险逻辑电路测试的要求,并以解除保险逻辑形式中的一种为例,说明了对安全与解除保险逻辑电路进行测试的测试用例的生成方法。

  • 单位
    中国人民解放军陆军工程大学

全文