X-射线全谱拟合法测量钛白粉的晶粒度

作者：王乐; 王永在; 刘胜; 许宏民; **刚; 孙计赞

来源：山东化工, 2014, 43(12): 75-78.

DOI：10.19319/j.cnki.issn.1008-021x.2014.12.027

• X射线粉末衍射
• 全谱拟合
• 钛白粉
• 晶粒度

采用X射线粉末衍射(XRD)全谱拟合的方法测量了钛白粉样品的晶粒度。选择步进式扫描采谱、结合全谱拟合法程序Topas中的基本参数法(FPA)软件全谱拟合,计算得到晶粒度参数,并与X射线粉末衍射线宽法、扫描电镜(SEM)分析结果进行对比。综合分析认为,X射线全谱拟合法计算钛白粉晶粒度无需标样、操作简便、分析快速准确,可以作为钛白粉的质量控制方法。

• 单位
  山东理工大学; 淄博出入境检验检疫局