建立了用X荧光光谱法测定铝硅镀液中硅、铁、镁、锰、铜、锌含量的分析方法。本文通过大量实验,采用基体匹配法校正基体对测定的影响,利用标准样品建立工作曲线,对多个样品进行分析,结果均表明:X荧光光谱法测定铝硅镀液中硅、铁、镁、锰、铜、锌含量,其精密度和准确度略差于ICP法,但分析时间和操作便捷性均优于ICP法,可以满足实际生产样品的分析。
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