一种面向SRAM型FPGA的三模冗余分区自修复方法研究

作者：王鹏; 刘正清; 田毅

来源：电子技术应用, 2021, 47(06): 92-95.

DOI：10.16157/j.issn.0258-7998.200384

• 单粒子效应
• FPGA
• 三模冗余分区
• 自修复

SRAM型FPGA的低成本及其现场可编程性使其在航空航天工业中很受欢迎。为解决FPGA受宇宙辐射引起的单粒子效应(Single Event Effect,SEE),常使用三模冗余(Triple Modular Redundancy,TMR)这一缓解技术。该技术通常与配置刷新技术一起用来加固基于SRAM的FPGA。传统的TMR只能针对单个故障提供一次保护,而将三模冗余结构进行分区可以增强其环境适应性。研究了一种将配置刷新和分区三模冗余结合的方法,并采用PRISM工具进行模型验证,结果表明该方法可以增强系统的可用性。

• 单位
  中国民航大学