基于分子模拟的PTFE和ePTFE的性能仿真

作者：郭睿; 张晋; 任翔; 何敏

来源：光纤与电缆及其应用技术, 2021, (03): 1-14.

DOI：10.19467/j.cnki.1006-1908.2021.03.001

• 聚四氟乙烯
• 微孔聚四氟乙烯
• 分子模拟技术
• 结晶
• 陷阱深度

通过Materials Studio软件建立聚四氟乙烯(PTFE)模型和微孔聚四氟乙烯(ePTFE)界面模型,基于分子动力学理论计算PTFE和ePTFE分子在不同温度下的运动状态,基于密度泛函理论计算PTFE和ePTFE的电子能量,模拟得到PTFE和ePTFE体系的极化强度和陷阱深度。得到结论,ePTFE的分子极化强度要比PTFE的小,并产生界面陷阱。

• 单位
  中国电子科技集团公司第二十三研究所