TSVs串扰故障分组测试和诊断策略

作者：王秀云; 刘军; 任福继

来源：微电子学与计算机, 2020, 37(02): 30-36.

DOI：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2020.02.006

• TSVs
• 串扰
• 集成电路
• 成品率
• 扫描链

TSVs串扰故障的测试和诊断对提高集成电路成品率有重要影响。为了减少TSVs测试和诊断时间,并且减少测试电路的面积开销,提出在信号接收端重用扫描单元的测试架构对TSVs串扰故障进行分组测试和诊断的新方案.该方案首先使用提出的TSVs分组算法,根据TSVs之间串扰影响距离,应用邻接矩阵求极大独立集对TSVs进行快速分组,使得每组内的TSVs不会发生串扰故障,并且最大化同组中TSVs的数量.分组完成后,使用提出的测试架构对同组内的TSVs进行并行测试,并且根据TSVs的测试响应,可以进一步诊断故障TSVs.实验结果表明,所提测试方案有效地减少了测试和诊断时间,并且减少了面积开销.

• 单位
  合肥工业大学