摘要
采用平行板电极法测定低频波段(10 Hz12MHz)区间鸡蛋蛋清和蛋黄在室温贮藏下介电特性与理化品质的关系。结果显示:蛋清和蛋黄的介电参数都随频率的升高而降低,且蛋清均高于蛋黄;不同贮藏时间,相同频率下蛋清的介电常数和损耗因子升高而蛋黄的这两个参数降低;鸡蛋的穿透深度随频率的升高而逐渐减少;蛋清和蛋黄损耗因子与离子传导介电损耗理论计算值的差值与频率的log-log图呈良好的线性关系,且低频段的介电损失主要是由离子传导所致。利用鸡蛋的介电参数,采用PLS方法对其理化品质建立预测模型,蛋清介电常数与哈夫单位、蛋黄介电常数与蛋黄水分的模型决定系数R2分别是0.9640,0.9891,预测标准偏差RMSEP分别是0.9206,0.0653。本研究对于蛋品品质检测仪器的研发提供了参考依据。
-
单位食品科学与技术国家重点实验室; 江南大学