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摘要
介绍了一种具有新型电容失配校准算法的12位全差分逐次逼近型模数转换器(SAR ADC)。该校准算法基于比较器的亚稳态实现,同时利用统计的方法来计算电容的失配量。为了提高亚稳态检测精度并避免"假亚稳态"的问题,在该ADC中使用一种新的亚稳态检测电路,进一步提高了校准精度并优化了时序控制序列。该SAR ADC采用40 nm CMOS工艺实现验证。后仿真结果显示,与不带校准的相比,该算法可以使ADC的有效位数提高1.52 bit,在130 MSample/s的采样率下达到11.71 bit。该ADC的总功率为9.27 m W,面积为0.131 mm2,品质因数(Fo M)为17.4 f J/step。
- 单位
