反熔丝FPGA可配置I/O端口可测性设计研究

作者：曹振吉; 曹杨; 隽扬; 曹靓; 马金龙

来源：电子与封装, 2023, 23(08): 67-73.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0112

• 反熔丝FPGA
• 可配置I/O
• 可测性设计

反熔丝FPGA在生产阶段不能通过编程后测试对电路进行筛选，必须通过编程前测试来解决生产测试问题。在研究反熔丝FPGA多标准可配置I/O端口电路结构的基础上，提出了一种用于可配置I/O端口的可测性设计（DFT）方案，在可配置I/O端口中插入软配置电路和边界扫描链，实现对可配置端口的临时配置和扫描测试，覆盖所有支持的电平标准及各种可配置I/O功能。仿真及测试结果表明，该DFT能够满足反熔丝FPGA多标准可配置I/O端口的测试需求，能够解决可配置I/O在生产中的测试问题。

• 单位
  中国电子科技集团公司第五十八研究所