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摘要
针对金属试件表面缺陷的检测，设计了一套金属表面缺陷检测系统。该系统通过AD 9767芯片利用DDS(直接数字式频率合成器)算法输出幅值和频率可控的正弦信号给激励线圈，激励线圈中的高频激励信号可以使感应线圈激发出同频率的感应信号，通过AD 9240芯片采集激励和感应线圈的电压信号并送到FPGA(现场可编程逻辑门阵列)部分，再利用数字相敏检波算法分解获得的感应电压以得到实部和虚部，进而得到感应线圈的有效复阻抗。利用MAX 4656和ADG 408芯片模拟开关分别控制激励通道和数模采集通道的开关，以扩大通道数，通过试验验证硬件和算法的可行性。结果表明，此系统可以产生幅度和频率可控的正弦激励信号，并可对输入通道的感应信号进行阻抗分解，得到感应信号的幅值、相位、实部和虚部。
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