电感耦合等离子体质谱法测定高纯氧化钽中28种痕量杂质元素

作者：郭鹏

来源：分析试验室, 2008, (03): 106-109.

DOI：10.13595/j.cnki.issn1000-0720.2008.0096

• ICP-MS
• 氧化钽
• 痕量杂质 ICP-MS
• Tantalum oxide
• Trace impurities

建立了用电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)测定高纯氧化钽中28种痕量杂质元素的方法。讨论了质谱干扰及接口效应,采用标准加入法消除基体效应。各元素的方法检出限为0.001~0.1μg/g,回收率为90%~115%,方法适用于纯度为99.999%的高纯氧化钽中痕量杂质元素的测定。

• 单位
  株洲硬质合金集团有限公司