摘要

对界面上不同结构缺陷所引起的分子排列和取向进行了组合,建立了分子的取向模型,利用光传播的电磁场理论,模拟出了布儒斯特角显微镜(BAM)的理论图像,并将其与实验观察得到的BAM图像进行了比较。结果显示:理论计算图像与实际BAM观察结果基本一致;复杂的BAM图案可由点缺陷和线缺陷组合得到。

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