TFT-LCD边角发黄不良解析研究和改善

作者：李晓锦; 郑伟; 陈强; 高云; 杨峰; 孟维欣; 申澈; 郭建

来源：电子世界, 2018, (02): 42-43.

DOI：10.19353/j.cnki.dzsj.2018.02.015

• TFT-LCD
• 边角发黄
• LC Pattern
• 封框胶

本文研究了TFT-LCD显示器制造工艺过程中边角发黄不良产生机理及其改善措施。通过对显微镜分析、PS高度、Cell Gap确认以及不良机理分析,得出在ODF工艺过程中液晶与未固化的封框胶接触时,边角位置处液晶快速扩散穿刺封框胶,同时由于区域性液晶填充过多造成发黄不良。本文从工艺上对LC Pattern及Dummy区域封框胶涂布工艺改善,从设计上对Dummy区域填充R/G/B胶进行改善,二者对边角发黄均具有显著的改善效果,边角发黄位置处的穿刺程度从改善前的58.6%降低到5.3%,从而有效的提高了该产品的良率。

• 单位
  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司