阐述了复杂结构产品径向与周向位移测量的重要性，介绍了传统位移测量的局限与不足之处，提出了一种基于微光纤探头及光学成像技术的位移测试系统。从测试系统的结构组成、工作原理、标定系统、位移计算、图像数字化处理、界面设计等几个方面进行了详细的分析、设计和计算，并论述了该测试系统的创新点和技术进步之处，在同类行业中具有一定的借鉴价值。
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