粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定直接还原铁中6种组分

作者：付亚凤; 赵超; 刘双龙; 艾连峰

来源：冶金分析, 2022, 42(07): 76-81.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.011692

• 直接还原铁
• 粉末压片
• 波长色散X射线荧光光谱法(WDXRF)
• 二氧化硅
• 三氧化二铝
• 磷
• 氧化镁
• 氧化钙
• 硫

直接还原铁中的Si、Al、P、Mg、Ca和S等杂质元素对钢的质量有重要影响，目前一般采用化学湿法分析和熔融制样-X射线荧光光谱法检测，程序相对繁琐。为缩短检测周期，研究采用粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定直接还原铁中SiO2、Al2O3、P、MgO、CaO和S,通过试验确定将淀粉作为粘结剂，在7.000 0 g样品中加入0.350 0 g淀粉，研磨120 s混匀并使其粒度小于0.074 mm,于30 t压力下压制成片。选取与待测试样组成、结构及粒度相似的具有一定梯度含量的直接还原铁标准样品/校准样品建立校准曲线，SiO2、Al2O3、P、MgO、CaO和S校准曲线的线性相关系数分别为0.999、0.998、0.992、0.995、0.997和0.999。按照实验方法测定直接还原铁中SiO2、Al2O3、P、MgO、CaO和S,结果的相对标准偏差(RSD,n=11)分别为0.014%、0.030%、0.076%、0.009%、0.026%和0.047%;分别采用实验方法与国家标准方法测定直接还原铁中SiO2、Al2O3、P、MgO、CaO和S,结果相一致。方法满足进口直接还原铁样品的快速检测要求。