介绍了光时域智能测试仪的一般工作原理,讨论了光纤损耗,并针对在光纤长度、光纤损耗等进行测试时存在的测试误差问题,给出了熔接、对接衰耗、测试盲区、不同折射率的光纤测试解决方案,从测试使用角度出发,介绍了降低测试误差,并提高测试精度的方法。
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