板厚建模对背钻控深精度提升的研究

作者:何知聪; 王守绪; 何为; 陈苑明; 苏新虹; 陶应国
来源:印制电路信息, 2021, S2: 79-84.

摘要

高厚径比通孔内部经背钻后可构建出有效的信号传输层,但受制于钻孔的精度控制等问题,多余通孔镀铜层则会形成残桩(stub)。因此改善背钻工艺,尽量减小stub的长度成为该工艺的主要研究方向。文章通过对测试板进行大量的板厚测量后建模,根据该模型预测实际的板厚分布,对预设背钻深度进行补偿,最终将stub值控制在50μm~200μm。