摘要

AgNbO3具有反铁电性及高的极化强度,在智能器件领域有着重要的应用前景。本论文采用助溶剂法合成了高质量的AgNbO3单晶(最大尺寸(5×4×4)mm3),系统研究了其相转变特征、光学和电学性能。当AgNbO3晶体处于正交M相时,保持着相同的畴结构;由M2相转变至M3相时,偏光显微镜(PLM)照片衬度变暗,同时电导率和介电损耗明显上升。当AgNbO3单晶由M3相到顺电O相时,畴结构消失;同时,表现出明显的热滞后现象,属于第一类相变。室温下,AgNbO3单晶的直接带隙拟合禁带宽度为2.73 eV,略窄于AgNbO3陶瓷。在临界电场以下,AgNbO3单晶表现出更高的电致应变(0.076%,Em = 130 kV/cm)。在绿色激光照射下,介电常数由70增加到73,表现出明显的光致介电效应。

  • 单位
    西安工业大学; 材料与化工学院; 科学技术部高技术研究发展中心